プレスリリース


検査装置のタカノ、直径10μm、ピッチ20μmまでのマイクロバンプの高さと径を同時に検査可能な検査装置「ALTAX-300EX」 半電子部材市場全体へ展開 2022年12月14日より販売開始


検査装置のタカノ、直径10μm、ピッチ20μmまでのマイクロバンプの高さと径を同時に検査可能な検査装置「ALTAX-300EX」 半電子部材市場全体へ展開 2022年12月14日より販売開始

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